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X射线粉末衍射技术——测量与分析基础
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内容简介
书名：X射线粉末衍射技术——测量与分析基础
作者：王春建编著
ISBN：978-7-122-45720-2
出版社：化学工业出版社
出版日期：2024.08
教材包含11章内容，分别是：晶体与X射线衍射现象、X射线粉末衍射技术功能与应用、衍射仪应用光路、衍射仪测量参数、样品制备技术、物相定性分析、物相定性结果评估、物相定量分析、衍射峰线形分析、仪器维护与辐射安全、学习方法论。教材以XRD从业人员和材料研究人员的角度，讲述对该技术的历史、发展、仪器、测量、数据处理、结果分析等方面的学习和认识，不仅介绍该技术的基本知识，更重要的是介绍该技术的学习方法论，旨在让相关专业的研究生能较深入地理解该技术，实现与研究课题深入关联，并且让相关仪器操作人员实现“快速入门、不断提高”的目的。本书适合X射线衍射仪操作人员、物相分析技术人员、材料/冶金/化工专业研究生参考阅读。
作者：王春建编著
ISBN：978-7-122-45720-2
出版社：化学工业出版社
出版日期：2024.08
教材包含11章内容，分别是：晶体与X射线衍射现象、X射线粉末衍射技术功能与应用、衍射仪应用光路、衍射仪测量参数、样品制备技术、物相定性分析、物相定性结果评估、物相定量分析、衍射峰线形分析、仪器维护与辐射安全、学习方法论。教材以XRD从业人员和材料研究人员的角度，讲述对该技术的历史、发展、仪器、测量、数据处理、结果分析等方面的学习和认识，不仅介绍该技术的基本知识，更重要的是介绍该技术的学习方法论，旨在让相关专业的研究生能较深入地理解该技术，实现与研究课题深入关联，并且让相关仪器操作人员实现“快速入门、不断提高”的目的。本书适合X射线衍射仪操作人员、物相分析技术人员、材料/冶金/化工专业研究生参考阅读。