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大气中子在先进存储器件中引起的软错误
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内容简介
书名：大气中子在先进存储器件中引起的软错误
作者：(日)中村刚史[等]著
ISBN：978-7-118-10284-0
出版社：国防工业出版社
出版日期：2015.11
本书共分八章。第一章，绪论；第二章，大气中子能谱和剂量；第三章，大气中子场的辐照实验；第四章，中子辐照试验装置；第五章，试验数据的评述和讨论；第六章，蒙特卡洛模拟方法；第七章，模拟结果及其意义；第八章，中子试验方法的国际标准。
作者：(日)中村刚史[等]著
ISBN：978-7-118-10284-0
出版社：国防工业出版社
出版日期：2015.11
本书共分八章。第一章，绪论；第二章，大气中子能谱和剂量；第三章，大气中子场的辐照实验；第四章，中子辐照试验装置；第五章，试验数据的评述和讨论；第六章，蒙特卡洛模拟方法；第七章，模拟结果及其意义；第八章，中子试验方法的国际标准。
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