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公差配合与测量技术
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内容简介
书名：公差配合与测量技术
作者：杨光龙，金文中，陈佳彬主编
ISBN：978-7-121-26744-4
出版社：电子工业出版社
出版日期：2020.01
本书共分七个项目，主要包括：极限配合与测量技术入门，测量零件线性尺寸，形状和位置公差及其检测，表面粗糙度及检测，测量角度、锥度，典型零件的测量，零件精密测量。
作者：杨光龙，金文中，陈佳彬主编
ISBN：978-7-121-26744-4
出版社：电子工业出版社
出版日期：2020.01
本书共分七个项目，主要包括：极限配合与测量技术入门，测量零件线性尺寸，形状和位置公差及其检测，表面粗糙度及检测，测量角度、锥度，典型零件的测量，零件精密测量。
上一本：
供配电技术及应用
下一本：
工业过程控制及安全技术