超大规模集成电路测试

书名：超大规模集成电路测试
作者：雷绍充，邵志标，梁峰编著
ISBN：978-7-121-06307-7
出版社：电子工业出版社
出版日期：2008.05
本书系统化编撰迄今为止主流的方法学与结构，为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础，也为电路的设计、制造、测试和应用之间建立一个相互交流的平台。主要内容包括：电路测试基础，验证、模拟和仿真，自动测试生成，专用可测性设计，扫描设计，边界扫描法，随机测试和伪随机测试，内建自测试，电流测试，存储器测试，SoC测试。