数字集成电路测试及可测性设计

书名：数字集成电路测试及可测性设计
作者：张晓旭，张永锋，山丹编著
ISBN：978-7-122-46553-5
出版社：化学工业出版社
出版日期：2024.11
本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发，系统介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。主要内容包括：数字集成电路测试基础、测试向量生成、可测性设计与扫描测试、边界扫描测试、内建自测试、存储器测试，以及可测性设计案例及分析。本书将理论与实践相融合，深入浅出地进行理论讲解，并辅以实例解析，帮助读者从入门级别的理解到信手拈来的精通，实现从理论知识到工程应用的有效过渡。本书可作为高等院校集成电路设计与集成系统等专业的教材，也可供集成电路行业的工程技术人员参考。