单板级JTAG测试技术

价　　格：¥25.80

作　　者：王承，刘治国编著

ISBN：978-7-118-09986-7

出版社：国防工业出版社

出版日期：2015.06

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内容简介

书名：单板级JTAG测试技术
作者：王承，刘治国编著
ISBN：978-7-118-09986-7
出版社：国防工业出版社
出版日期：2015.06
本书主要内容包括：基本概念、IEEE1149.X标准、单板级可测性设计、边界扫描测试应用、内建自测试技术、处理器测试技术、嵌入式测试技术。本书适合于相关领域工程技术人员阅读，也可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等专业高年级学生或研究生的教学参考书。

上一本：典型密码算法C语言实现

下一本：微型计算机原理及其接口技术