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当代光学计量测试技术概论

价  格:¥25.80

作  者:杨照金主编

ISBN:978-7-118-08467-2

出版社:国防工业出版社

出版日期:2013.01

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内容简介

书名:当代光学计量测试技术概论
作者:杨照金主编
ISBN:978-7-118-08467-2
出版社:国防工业出版社
出版日期:2013.01
本书介绍光学量子计量技术和非常规量限光学计量测试技术的基本概念、计量标准和测量方法。全书共16章。光学量子计量技术主要介绍量子基准的基本概念和典型量子计量基准,重点介绍光学量子计量相关的问题,包括双光子相关计量技术、单光子探测技术、量子长度计量技术、量子时间计量技术和纳米计量技术等。非常规量限光学计量主要介绍非常规量限光学计量测试的基本概念、计量标准和测量方法,涉及了真空紫外与极紫外、强激光参数、超短激光脉冲特性参数、高反光学薄膜参数、大口径光学材料参数等。