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电子元器件失效分析技术
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内容简介
书名：电子元器件失效分析技术
作者：恩云飞，来萍，李少平编著
ISBN：978-7-121-27230-1
出版社：电子工业出版社
出版日期：2015.10
本选题是工程应用类书，主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容，使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念，技术和设备、方法和流程，指导开展相关的失效分析工作，并了解失效预防的一些基本方法和手段。
作者：恩云飞，来萍，李少平编著
ISBN：978-7-121-27230-1
出版社：电子工业出版社
出版日期：2015.10
本选题是工程应用类书，主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容，使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念，技术和设备、方法和流程，指导开展相关的失效分析工作，并了解失效预防的一些基本方法和手段。