半导体集成电路的可靠性及评价方法

价　　格：¥25.80

作　　者：章晓文，恩云飞编著

ISBN：978-7-121-27160-1

出版社：电子工业出版社

出版日期：2015.10

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内容简介

书名：半导体集成电路的可靠性及评价方法
作者：章晓文，恩云飞编著
ISBN：978-7-121-27160-1
出版社：电子工业出版社
出版日期：2015.10
本书共11章，以硅集成电路为中心，重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效机理的可靠性仿真和评价。第10章对集成电路的可靠性仿真进行了介绍。第11章用案例演示了失效机理的可靠性评价过程。随着集成电路设计规模越来越大，设计可靠性越来越重要，在设计阶段借助可靠性仿真技术，评价设计出的集成电路可靠性能力，针对电路设计中的可靠性薄弱环节，通过设计加固，可以有效提高产品的可靠性水平，

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