光学干涉检测

价　　格：¥25.80

作　　者：(美)埃里克·P. 古德温，(美)詹姆士·C. 怀亚特著

ISBN：9787308134767

出版社：浙江大学出版社

出版日期：2014.07

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内容简介

书名：光学干涉检测
作者：(美)埃里克·P. 古德温，(美)詹姆士·C. 怀亚特著
ISBN：9787308134767
出版社：浙江大学出版社
出版日期：2014.07
本书介绍了光学干涉基本原理和方法，包括干涉基础、典型干涉仪、相移干涉、干涉图处理、绝对测量、像差分解、以及典型光学零件特别是非球面的几何参数测量方法和技术等。重点介绍了干涉技术的基本精髓所在，即光程差的调制及处理方法。

上一本：机械制造基础（及金工实习）

下一本：车削工艺及项目实践