C/C++程序缺陷与优化

书名：C/C++程序缺陷与优化
作者：于秀山[等]编著
ISBN：978-7-121-22632-8
出版社：电子工业出版社
出版日期：2014.04
程序设计可谓是一个老生常谈的话题，与传统的C/C++程序设计方面的书籍不同，本书从另外一个视角——程序缺陷的角度来探讨程序设计与优化。本书从作者所从事的软件测试项目中精选了与C/C++语言有关的程序缺陷，主要包括编码风格、内存管理、内存泄漏、缓冲区溢出、指针使用、安全等方面。对于每一种缺陷，通过实例分析了缺陷产生的原因，并给出了具体的修改和优化方法。面对这些缺陷，程序员会有一种似曾相识、相见恨晚的感觉。通过这些缺陷，程序员能够跳出固有的程序设计思维定式，使其翻然醒悟，茅塞顿开。