SoC设计和测试技术：理论与实践

价　　格：¥25.80

作　　者：刘文松等编著

ISBN：978-7-5641-6780-6

出版社：东南大学出版社

出版日期：2016.09

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内容简介

书名：SoC设计和测试技术：理论与实践
作者：刘文松等编著
ISBN：978-7-5641-6780-6
出版社：东南大学出版社
出版日期：2016.09
本书系统讲解了SoC设计与测试技术所涉及的基础理论和工程实践。基础理论部分，内容涵盖了硬件描述语言、可编程逻辑器件、逻辑综合、自动布局布线等内容。工程实践部分，基于ARM平台讲解SoC系统设计和测试方法。

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